引言
Power Tester功率循环测试设备可以用于帮助客户加速完成封装结构研发、可靠性测试以及可靠性筛选等工作。作为大功率半导体器件瞬态测试和功率循环测试测量行业的标杆和引领者，具有其他同类设备无法比拟的重大优势，下面让我们看看它有哪些优势。
1.针对不同行业的解决方案——广泛的硬件配置选择
无论是小功率单管器件还是Si基MOSFET, IGBT,功率二极管等半导体器件和SiC基Mosfet模块，Power Tester都能提供各种不同电流不同电压的版本型号，满足对以上被测器件进行瞬态热测试Rth和功率循环PC测试。
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2.同时兼具瞬态热测试Rth和功率循环Power Cycling
可以同时进行功率循环和热测试模式。
● 利用功率循环对待测器件施加老化应力
● 根据器件达到失效的循环数预估其寿命
● 功率循环期间定期进行热瞬态测试，并监控系统参数 (VCE 和IGate )
● 功率循环期间，任何与老化降级相关的热效应都可以在不移动待测器件的情况下通过结构函数在线监测
● 系统会根据用户提前设定的条件增加热瞬态测试的频率
3.操作界面简单
用户可以在工业触摸屏上通过一步一步导向式快速设置实验参数和条件，快速完成实验的初始准备工作。另外通过简单的操作讲解培训，能让专业人员和生产线操作人员更快掌握测试流程和轻松上手使用设备。
4.多种功率循环施加策略 (符合AQG-324标准)
Power Tester功率循环测试设备在功率循环测试和瞬态热测试联合测量模式下，可以支持多达 4 种不同的功率控制模式：恒定加热电流模式(PCsec)、恒定结温差模式ΔTj、恒定功率模式ΔP、恒定壳温差模式ΔTc。
5.支持两种功率模式短周期&长周期 (PCsec & PCmin)
Power Tester功率循环测试设备符合AQG-324(2021)标准里的对于PCsec& PCmin功率循环模式的要求，支持短周期和长周期的循环实验。
6.高精度的监控和精确的测试结果
功率循环期间，记录的数据包括：
电学参数：开关切换前后Vce，栅极电流I(g,off)， ΔP、Icycle、Rdson，VDSon,VDSon cold等
热学参数 ：ΔTJ ， Tjmax， Tjmin，ΔTJ / ΔP， Zth以及结构函数等。
7.远程监控
设备运行状态都可以远程使用web界面进行监控。实验数据可通过网线实时网络传输。
8.简易的操作
设备自带两个冷板，实现对封装类型为冷却表面的器件进行快速轻松安装，设备内置了带触摸屏的工业计算机，使用操作非常简易和方便。
9.安全功能和高可靠性设计
Power Tester功率循环测试设备具有极高的安全性能。设备具有一个标准4 色信号灯塔，用来指示设备操作的状态。在封闭的测量区域内装有各种安全传感器，一旦触发，设备可立即停止加热电流的输出或设备停机，保证操作人员和设备的安全。
10.了解失效机理和损害的因果关系
Power Tester 功率循环测试设备在功率循环测试过程中，监控和记录器件的每个循环的各种参数值，通过周期性对被测器件进行瞬态热测试，最终得到不同周期的结构函数，可以清晰的显示出被测器件内部的老化降级过程；利用结构函数分析循环过程中封装结构的改变和缺陷等，同时可以实时、“原位在线”式的对器件失效原因进行确认和分析，保证测试结果的精度及准确性。
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